1、精密度(Precision)
定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说,精密度就是重现性(Reproducibility或Repeatability)。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的,测量的时间越长,则精度越高。WTH-2000型 的精度一般能达到0.1%。
2、准确度(Accuracy)
定义为各次测定值mi对于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,准确度也一定差。
反之,准确度很差,精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和准确度都要求高。
3. 计数统计误差
在放射性物质的测量中,假设仪器稳定性、机械在现性可确保,由仪器机械产生的误差可以忽略不计,但计数统计误差还是不能消除。 X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。
N为每秒计数,是一常量。显然,时间越长,则相对偏差就越小,即精度就越高。
4、检出限(Limit of detection)
当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量,就称为检出限(或叫检出限)。
这时候,测到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%
测定检出限时,一般要用含量比较低的样品来测量。
检出限因所用试样(基体)的不同而不同。
WTH-2000型的检出限一般是10ppm,达10 ¤。
5、灵敏度(Sensitivity)
灵敏度是指元素含量变化一点 (例如1%),其相应的特征X射线强度的变化量。
灵敏度=DC
灵敏度和检出限有联系,一般来讲,检出限较高,则灵敏度也较高。检出限和灵敏度都与本底有关。可以由下式表示:
本底低检出限高灵敏度高
不过,反过来推导是不行的。
6、漂移
由于电子元器件都会随温度的变化而参数发生变化,线路中放大器的放大倍数、高压的电压等都会发生变化,这样会导致谱峰发生漂移。谱漂移后会给测量带来误差。
EDX4500型仪器中有专门的软件跟踪漂移并进行校正。
7、误差
X荧光分析的误差往往是很难计算的,所以,通常情况下,把统计涨落引起的误差作为测量的误差。